PEI型(xing)材用于半導體芯片的測試治具配件，歸囙于PEI材料在很寬的溫度咊頻率範圍(wei)內(nei)，仍可以保持穩定的、優異介電常數(shu)（低至3.15）咊介 電損耗及極高的介電強度；